Вакуумный УФ-спектрофотометр UF SPECTROMETER

Аналитический спектрофотометр для высокоточных измерений в УФ-области спектра в условиях вакуума

Вакуумный УФ-спектрофотометр UF-200

Описание

Вакуумный УФ-спектрометр UF SPECTROMETER — это аналитический спектрофотометр, работающий в условиях высокого вакуума и позволяющий проводить измерения в УФ-области спектра с высокой точностью. Прибор предназначен для решения узкого круга исследовательских задач, связанных с регистрацией и обработкой спектров, количественным анализом и многокомпонентным анализом, а также кинетическими измерениями.

Прибор позволяет измерять спектры поглощения образца, параметры пропускания, отражения, рассеяния и поглощения твердых и жидких образцов.

Принцип работы

В качестве источника света УФ-спектрофотометр UF SPECTROMETER использует дейтериевую лампу. Излучаемый свет фокусируется в монохроматоре, который выделяет излучение в пределах заданного спектра, и фокусирует сигнал на образец. Для регистрации излучения используется ФЭУ-детектор, далее ПО системы проводит анализ полученных спектров поглощения для последующего анализа необходимых характеристик образца.

Преимущества

  • Возможность анализа в высоком вакууме
  • Двойной ФЭУ-детектор для высокоточного анализа
  • Гибкий конфигурируемый интерфейс программного обеспечения анализа
  • Возможность независимой настройки положения образца и детектора

Технические характеристики вакуумного УФ-спектрофотометра UF SPECTROMETER

 
Спектральный диапазон 120–320 нм
Источник света Дейтериевая лампа, материал окна — MgF₂, потребляемая мощность — 200 Вт
Детектор Двойной ФЭУ-детектор (фотоэлектронный умножитель), включая ФЭУ-детектор образца и ФЭУ-детектор опорного света
Вакуум 5 × 10⁻³ Па
Частота модуляции 90 Гц
Диапазон вращения детектора образца 10°–180°
Угол вращения образца 0–60°
Точность калибровки 0,1 нм
Повторяемость длины волны 0,05 нм
Стабильность < 0,5% в час
 

Примеры данных, полученных на приборе

  • Тест точности длины волны
  • Тест стабильности
  • Тест повторяемости в режиме пропускания
  • Тест повторяемости в режиме отражения